Halbleiterprodukte werden in vier Kategorien eingeteilt: integrierte Schaltungen (ICs), optoelektronische Bauelemente, diskrete Bauelemente und Sensoren. Unsere Testlösungen umfassen eine breite Palette von Bauelementen, darunter gekapselte ICs, Halbleiterlaser, fotoelektrische Beleuchtungselemente, Dioden, Trioden, Feldeffekttransistoren, Thyristoren, IGBTs, Sicherungen, Relais sowie weitere diskrete Bauelemente und Sensoren. Um zuverlässige Tests von Halbleiterlasern und anderen Bauelementen zu gewährleisten, bieten wir
StromversorgungEs verfügt über eine CC/CV-Prioritätseinstellung und eine Schleifengeschwindigkeitsanpassung, wodurch ein Anlaufüberschwingen effektiv unterdrückt und das Halbleiter-Prüfobjekt geschützt wird.