Halbleiterprodukte werden in vier Kategorien eingeteilt: Integrierte Schaltkreise (ICs), optoelektronische Bauelemente, diskrete Bauelemente und Sensoren. Unsere Testlösungen umfassen eine Reihe von Bauelementen, darunter integrierte Schaltkreise, Halbleiterlaser, photoelektrische Beleuchtungselemente, Dioden, Trioden, Feldeffektröhren, Thyristoren, IGBTs, Sicherungen, Relais und andere diskrete Bauelemente und Sensoren. Um zuverlässige Tests von Halbleiterlasern und anderen Bauelementen zu gewährleisten,
Stromversorgungverfügt über eine CC/CV-Prioritätseinstellung und eine Anpassung der Schleifengeschwindigkeit, wodurch ein Überschwingen beim Start wirksam unterdrückt und der Halbleiter-DUT geschützt wird.